Malzeme Karakterizasyonu ve X Işınları MALZEME KARAKTERİZASYONU-Bölüm 2-Işık Mikroskopu ve Görüntüleme MALZEME KARAKTERDZASYONU BÖLÜM 2 IŞIK MDKROSKOPU ve GÖRÜNTÜLEMEŞekil 2.1. Işık mikroskop düzeneği ve ışık yolunu gösteren kesit: (a) Küçük bir metal mikroskobuŞekil 2.1. Işık mikroskop düzeneği ve ışık yolunu gösteren kesit: (b) Reflekte ve transmitte ışık için modifiye edilmiş modern bir mikroskopŞekil 2.2. Bir mikroskopta ışık hüzmesinin aldığı yolun şematik gösterimiTablo 2.1. Mikrofotografide kullanılan büyütme ölçekleriŞekil 2.3. Ötektik altı bir demir-karbon alaşımının görüntüsü ; (a) düşük büyütme (b) orta büyütme (c) yüksek büyütmeŞekil 2.4. Normlanmış en önemli 3 görüntü formatıŞekil 2.5. Numerik aperturun şematik olarak gösterimiTablo 2.2. Daldırma çözeltisi, kırılma indisleri ve bunlara uygun objektiflerin apertur değerleriŞekil 2.6. Mikroskopta kullanılan objektifler ; (a) Akromatik objektif (b) Fluorit (yarı apokromatik) objektif (c)Apokromatik objektif (d) Objektif üzerinde yazılı spesifikasyonlarŞekil 2.7. Tipik bir okuların boyuna kesiti. Sabit apertur diyaframı, ara görüntünün oluştuğu mercek 1 ve 2 arasında bulunmaktadır. Okular, mikroskopla çalışan kişinin rahatça görebilmesi için korumalı bir gözetleme deliğine sahiptirŞekil 2.8. Köhler aydınlatma presibinin genel bir düzeneğinin şematik gösterimiŞekil 2.9. Mikroskopta düz cam ayna ve prizma ile elde edilen ışık yoluŞekil 2.10. Stereo mikroskop ile alınmış döküm yapısına sahip transformatör çeliğinin (%4 Si) stereo görüntüsü; matriks HBr (hidrojen bromür) ile dağlanmış. Metalik olmayan kalıntılar ile karbürlerin yapısı ve hacimsel konumları dağlamadan etkilenmezŞekil 2.11. Eğik ışıklandırmada ışığın aldığı yolun şematik gösterimiŞekil 2.12. Düşey ışıklandırmada ışığın aldığı yolun şematik gösterimiŞekil 2.13. Döküm kalayın (a) eğik ışıklandırmada, (b) düşey ışıklandırmada alınan görüntüsüŞekil 2.14. Aydınlık ve karanlık alan aydınlatmada ışık hüzmesi giriş açılarıŞekil 2.15. Elektrolitik demir, %1 lik nital ile dağlanmış (a) aydınlık alan (b) karanlık alan görüntüsüŞekil 2.16. Tavlanmış bakır-nikel alaşımının (a) aydınlık alan görüntüsü (b) karanlık alan görüntüsüŞekil 2.17. Çelik içerisindeki silikat tipi kalıntılar, parlatılmış numune (a) paralel Nikols ile görüntülenmiş (b) çapraz Nikols ile görüntülenmişŞekil 2.18. % 25 deforme edilmiş zirkonyum, HF ve HNO3 karışımı ile dağlanmış; döküm yapısının dendritleri ve deformasyon ikizleri. a. aydınlık alan, b, c. -Dki birbirine 90 döndürülmüş analizatör konumlarında- polarize ışık destekli aydınlık alanŞekil 2.19. Saf aluminyum (a) tane sınırı dağlanmış, aydınlık alan (b) florobor asitiyle anodik oksidasyon, polarize ışıkŞekil 2.20. Pozitif faz kontrastında kontrast oluşumunun açıklamasıŞekil 2.21. 1200 oC’de suda su verilmiş %0,2 C, %17 Cr, %1 Mo içeren bir çeliğin görüntüsü; Ferrit +Östenit, kral suyu ile dağlanmış ; (a) aydınlık alan (b) pozitif faz kontastı. Ferrit daha derinde bulunan matriksi oluşturmaktadır. Daha sert olan östenit kabartı şeklinde görünmektedir.Şekil 2.22. DIN 100Cr6 tipi alaşımlı çelik, sertleştirilmiş ve temperlenmiş; karbürlerle bezenmiş martenzitik yapı (a) aydınlık alan (b) pozitif faz kontrastı. Daha sert olan karbür taneleri üstte aydınlık olarak görünürken daha yumuşak olan matriks daha derinde koyu gri olarak görünmektedir.Şekil 2.23. 1200 oC’de suda su verilmiş ve 50 saat 700 oC’de yumuşatılmış %0,2 C, %17 Cr, %1 Mo içeren bir çeliğin görüntüsü, kral suyu (HCl+HNO3)ile dağlanmış (a) aydınlık alan (b) pozitif faz kontrastı. Daha sert olan östenit taneleri üstte aydınlık olarak görünürken daha yumuşak olan ferrit taneleri daha derinde koyu olarak görünmektedir.Şekil 2.24. Diferansiyel enterferans kontrastı (a) mikroskop düzeneğinin şematik çizimi (b) bir ferro-silisyum alaşımının yüzeyindeki hataları gösteren reflekte ışık diferansiyel enterferans kontrast görüntüsüŞekil 2.25. Bir dalganın tanımıŞekil 2.26. Enterferans (girişim) prensibiŞekil 2.27. Floresan ışınım orijininin diyagramda gösterimiŞekil 2.28. Bir floresan mikroskobunda mavi filtre için elementlerin diyagramı