Malzeme Karakterizasyonu ve X Işınları XR-D, XR-F, SEM ve TEM Tekniklerinin Karşılaştırılması XR-D, XR-F, SEM ve TEM Tekniklerinin Karşılaştırılması XR-D Tek kristal, polikristal ve amorf malzemeler için kullanılabilmektedir. Yarı kantitatif analiz yapabilir. Numunemizde bulunan mevcut fazları saptar. Faz oranlarını ve bileşimlerini verir. XR-F Tek kristal, polikristal ve amorf malzemeler için kullanılabilmektedir. Kantitatif elementel analiz yapabilir. Numunedeki elementlerin ve yüzde oranlarını verir. SEM Tek kristal, polikristal ve amorf malzemeler için kullanılabilmektedir. Büyütme kapasitesi 8X ile 300000X arasındadır. Numune yüzeyini, tane boyutu, kristal boyutu, kristal yapısını görebilme ve fotoğraflama imkanı sunar. TEM